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JEM-Z200MF無磁場透射電子顯微鏡 JEM-Z200MF是一款無磁場物鏡的電子顯微鏡，可以在不向樣品施加強磁場的情況下實現高分辨率觀察。結合高次像差校正器，可以實現原子級分辨率成像。
XD-1000光譜分析儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件 的膜厚，可選配自動平臺實現 XYZ 軸編程位移，實現無人值守多點測量，測量軟件置入* 的 EFP 算法及解譜技術，解決了諸多業(yè)界難題。
XAU熒光光譜分析儀XAU 是一款一機多用型光譜儀，應用了*的 EFP 算法和微光聚集技術，既保留了專用 測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。 被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。
愛丁堡RM5拉曼顯微鏡RM5是一款緊湊的全自動拉曼顯微鏡，用于分析和研究目的。RM5真正的共焦設計在市場上并提供了光譜分辨率，空間分辨率和靈敏度。
愛丁堡RMS1000拉曼顯微鏡真正的共聚焦–多位置針孔，可實現高空間分辨率，熒光和背景抑制以及應用優(yōu)化 五位置光柵轉塔–小于0.1 cm-1的光譜分辨率和5 cm-1 – 30,000 cm-1的覆蓋范圍 兩種光譜儀選件–標準緊湊型和長焦距光譜儀可提供最終分辨率，靈敏度和雜散光抑制
奧林巴斯OLS5100-SAF激光共焦顯微鏡適用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光顯微鏡將測量精度和光學性能與智能工具相結合，讓顯微鏡更加方便使用。通過快速高效精確測量亞微米級形狀和表面粗糙度的可靠數據簡化您的工作流程
自動光譜橢偏儀SENDUROSENDURO® 可測量透明和反射基片上單層薄膜和層疊膜的折射率和厚度。SENDURO® 自動掃描則實現了較高的樣品速度，化安裝工作量和低的維護成本。該光譜橢偏儀的自動掃描具有預定義或用戶定義的模式、允許廣泛的統計特性和數據圖形顯示。
安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀橢偏振動光譜 利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。
