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日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡 EM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽(yù)的JEM-2100 的電子光學(xué)系統(tǒng)，還增加了最新的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能，操作方便，簡明易懂，在材料、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)等多個研究領(lǐng)域提供優(yōu)異的解決方案。
日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。
JEM-Z200FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標(biāo)配冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統(tǒng)。新設(shè)計的Ω能量過濾器與無孔位相板的組合，進(jìn)一步提高了生物樣品的襯度。
JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡NEOARM” 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統(tǒng)，可以自動進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。
JEM-Z300FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(Ω能量過濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統(tǒng)內(nèi)最多可以存儲12個樣品，可以任意取出和交換一個或數(shù)個樣品，能靈活地進(jìn)行測試排序。
JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實(shí)現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精煉的外觀設(shè)計呈現(xiàn)。該設(shè)備做成了操作流程菜單，按照該菜單，操作人員即使不直接操作設(shè)備也能采集到數(shù)據(jù)。
JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡 JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。
JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II 場發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡 CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質(zhì)等對電子束敏感的樣品，可進(jìn)行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實(shí)驗(yàn)。
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